80%的电子产品损坏大都来源于跌落磕碰，研发人员往往泯灭许多的时间和资本，针对产品做相关的质量实验，常见的可靠性考试就是跌落实验。跌落实验是为了电子产品包装后在模仿差别的棱、角、面与差别的高度下跌于地面时的情况，然后了解产品受损情况及评价产品包装组件在下跌时所能蒙受的蜕化高度及耐攻击强度，然后依据产品实际情况及国家规范规模内进行改善、完善包装设计。

 　　跌落试验的要领有：
　　跌落高度大都凭据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下外貌应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性外貌(如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定)。
 
　　关于差别国际规范纵然产品在相同重量下但掉落高度也不相同，关于手持型产品(如手机,MP3等)大大都掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC关于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel敌手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛水平取决于跌落高度、跌落次数、跌落偏向。
 
　　跌落测试的原理——将包装件按划定高度跌落于坚硬、平整的水平面上，评定包装件蒙受笔直攻击的能力和包装对内装物�；つ芰Φ牟馐�。跌落测试，又名drop test/HG-318。
 
　　跌落测试参考标准
　　GB／T 4857.1-2019包装运输包装件基本试验第1部分：试验时各部位的标示要领
　　GB/T 4857.23-2012包装运输包装件基本试验第23部分：随机振动试验要领
　　GB/T 4857.5-1992包装运输包装件跌落试验要领
　　GB/T 4857.17-2017包装运输包装件基本试验第17部分：体例性能试验纲要的通用规则
　　GBT4857.18-1992包装运输包装件体例性能试验纲要的定量数据
 
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